荧光光谱仪PCB抄板及芯片解密技术实例

本案例中的是力思在设备反向解析、电路板抄板、电路板克隆、样机仿制克隆、样机制作、样机调试等反向研发领域取得的重要技术成果。为尊重客户意愿，遵守保密协议，现将部分数据介绍如下：
　　荧光光谱仪技术参数
　　1.稳态： S/N min 4000:1(光子计数和全反射光路)
　　2.10us-10s 以上(磷光寿命)10ps-10us(荧光寿命)
　　3.波长范围： 200-900nm (UV-VIS-NIR)
　　4.扫描速度： 150nm/s
　　主要特点
　　1.全自动操作:由计算机控制
　　2.软件功能： 各种全自动调整，校正和3D曲线
　　3.配置灵活： 选择功能模块和附件可测各种样品
　　4.可升级到Tau-3测ps级荧光寿命
　　目前力思已经攻克了此系列产品的多项关键技术，不仅可快速准确地对此类产品进行克隆仿制，并可根据客户要求提供定制化服务，已拥有了诸多经典案例，部分产品已投放市场并取得了良好的经济效益。同时，为促进行业发展，力思现诚挚对外转让此相关案例的全套技术资料，客户可轻松把握此类产品的设计思路，捕捉某些高端设计的闪光点，为己所用，也可方便地融入到自己的设计中，开发出更高端的产品。欲知更多详情请来电来访咨询！