库尔特乳粒测定仪电路板PCB抄板及IC解密

        反向技术，pcb抄板技术的日渐成熟，使得力思人情开阔在反向研究的视野，数万件电子设备技术密码的成功破译，多种设备的良好回馈，使得力思离自己的目标更近了，但是为了给人们提供多种精密仪器的pcb抄板，力思的奋斗方向正向精密仪器倾斜，而库尔特乳粒测定仪的反向研究的成功只不过是力思反向研究众多案例中的一例，根据客户保密协议，现将部分技术参数透知于下
　　库尔特乳粒测定仪技术参数
　　乳粒测量范围：0.4um-1200um
　　孔管动态范围：1：30
　　测量时间：1-90秒
　　库尔特乳粒测定仪主要特点
　　1）乳粒测量不受样品折光率、颜色影响。
　　2）直接测量乳粒的粒径和绝对数目。
　　3）可检出（而通常的激光方法无法检出）含量极微量的乳粒。
　　4）提供高达300个的分析通道，使乳粒粒径任何的微小变化多能鉴别。
　　5）独家专利DPP处理器更可直接记录原始脉冲信号，并能监查乳粒在分析过程中的状态，如凝聚、溶解、沉降等。
　　库尔特乳粒测定仪介绍
　　注射用乳剂：药物或诊断用显影剂在药物研究与生产中品质的检验均须对乳剂的乳粒进行监控，过大的乳粒进入循环系统将会造成危险。这要求检测仪器具有相当高的分辨能力和极高的灵敏度。
　　力思专业从事抄板设计、设备仿制、整机克隆及二次开发服务，现掌握了数百套常用设备破解技术，为了增强技术的应用力度，力思科技特面向业者提供全套技术转让，专业的技术团队突击为您解决技术和设备上的瓶颈，有意合作者请与力思商务中心联系！