发射透射电镜电路板PCB抄板及芯片解密案例

        力思专注于反向技术研究领域近二十年，以狼性的技术研究能力在业界著称，现已成功破解了数万件设备的技术密码并实现了二次开发，现已投入第一线使用的设备性能良好，仿真度高，受到了客户的普遍好评。此案例是力思的成功案例之一，现将有关功能特点详细介绍如下：
　　发射透射电镜技术参数
　　1.信息分辨率极限
　　U-TWIN 0.10nm
　　S-TWIN 0.14nm
　　2.点分辨率
　　U-TWIN 0.17nm
　　S-TWIN 0.20nm
　　3.高分辨STEM分辨率
　　U-TWIN 0.14nm
　　S-TWIN 0.19nm
　　4.样品最大倾角 S-TWIN +/- 40o
　　力思专业提供抄板设计、样机制作与调试、芯片解密、批量代工等服务，现有大量各类电子设备技术资料寻求转让，有意者请与力思商务中心联系！