x射线荧光光谱分析仪PCB抄板克隆
时间:12-06-29 点击:
力思专业从事反向技术研究,在PCB抄板界享有盛名。我司采用世界上最先进的扫描设备,并且拥有专业的、有经验的抄板团队,能解决并完善当前PCB设计布线中的一些缺陷及不足现在可对各种产品进行模拟仿真,保证设计质量。
技术参数:
测量范围:Na (11)~U (92)
元素含量分析范围:1ppm~100%
探测器类型:硅漂移探测器(SDD)
X-光管:Mo-阳极标准(Rh,W,Ag,Cr可选)
分辨率:160ev±10ev
X-射线电压:3-50kV,50W
电力供应:115VAC/60Hz,230VAC/50Hz
稳定性:室温条件下精确到0.1%
采样器:一个位置
工作条件:空气
尺寸(L×W×H,cm):46×44×34(不含包装),75×75×65(含包装)
重量:25Kg(净重),60Kg(总重)