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x射线荧光光谱分析仪PCB抄板克隆

时间:12-06-29 点击:

力思专业从事反向技术研究,在PCB抄板界享有盛名。我司采用世界上最先进的扫描设备,并且拥有专业的、有经验的抄板团队,能解决并完善当前PCB设计布线中的一些缺陷及不足现在可对各种产品进行模拟仿真,保证设计质量。
  技术参数:
  测量范围:Na (11)~U (92)
  元素含量分析范围:1ppm~100%
  探测器类型:硅漂移探测器(SDD)
  X-光管:Mo-阳极标准(Rh,W,Ag,Cr可选)
  分辨率:160ev±10ev
  X-射线电压:3-50kV,50W
  电力供应:115VAC/60Hz,230VAC/50Hz
  稳定性:室温条件下精确到0.1%
  采样器:一个位置
  工作条件:空气
  尺寸(L×W×H,cm):46×44×34(不含包装),75×75×65(含包装)
  重量:25Kg(净重),60Kg(总重)

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