数字IC测试器PCB抄板实例解析

　数字IC测试器PCB抄板（克隆）实例解析
　　数字IC测试器主要用于对各类数字IC（数字IC就是传递、加工、处理数字信号的IC）进行多种参数测定，方便对器件进行特性分析、查找产品电路故障等等。力思科技在数字IC测试器领域已经取得多个项目成果，在此我们不便将所有产品信息详细列出，以下仅以某数字IC测试器为例。该测试器可测量约1800种数字IC，在数字电路设计与分析中被广泛应用。
　　数字IC测试器特性：
　　?Loop 测试
　　?自动搜寻 IC 编号功能
　　?开机自我侦测诊断功能
　　?过载保护功能
　　?可量测之 IC 种类超过 1800 种
　　?54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
　　?4000 及 4500 系列 CMOS
　　?最大可测 Pin 数 : 28 Pin
　　数字IC测试器技术指标：
　　测试范围 54/74 系列 TTL 及高速CMOS
　　4000 及 4500 系列CMOS
　　55 及 75 系列 TTL
　　量测种类 约 1800 种
　　测试电压 5V DC
　　测试时间 高测试速度，平均0.8 秒可完成一个 IC
　　使用电源 交流 110V/220V +10%,50/60Hz
　　尺寸及重量 335(宽) x 105(高)x 300(长) mm, 约 1.5 公斤
　　针对上述数字IC测试器等多种参数测试仪器，力思科技长期提供产品全套仿制克隆及二次开发服务，不仅可以完整地为客户克隆出整套产品，保证与原产品在性能特征与功能构成上保持完全一致，还可以根据客户的个性化需求对样机进行二次开发，修改其中功能模块构成与设计，实现产品的更新升级。如果您有相关产品开发需求，请与力思科技联系，您只需提供给我们一套完整的样机或样板，我们就能为您提供从PCB抄板、原理图反推、BOM清单制作、板上加密芯片解密到电路板克隆、样机仿制克隆等全程项目开发服务